GD-Profiler 2™
El GD-Profiler 2™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés incluyendo Na, Li, H, ²H, O, Cl.
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Equipado con una fuente de RF pulsada avanzada, el rango de aplicaciones del GD-Profiler 2™ permite cubrir desde estudios de corrosión, control de proceso de PVD, baterías del Li hasta el control de películas delgadas de uso fotovoltaico.
Características
- Óptica simultánea de alta resolución con cobertura espectral completa desde 110 hasta 800nm, incluyendo VUV H, (D), O, C, N y Cl
- Nueva generación de redes holográficas originales de HORIBA Jobin Yvon con grabación iónica para asegurar el mayor rendimiento luminoso y obtener la máxima sensibilidad
- La detección patentada HDD proporciona velocidad y sensibilidad de detección sin compromiso
- Compartimento accesible de la muestra
- Software de gran alcance QUANTUM™ con generador de informe
- Puntero láser CentreLite (patente en trámite) para suministro preciso de muestra
- La opción del monocromador disponible solamente en HORIBA Jobin Yvon proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando la capacidad "n+1".
