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TESCAN - Aplicaciones SEM

La microscopía electrónica de barrido (SEM por sus siglas en inglés, Scanning electron microscopy) es una técnica no destructiva, ya conocida y utilizada en la actualidad. Los microscopios electrónicos de barrido producen imágenes de alta magnificación con alta resolución, lo que los hace herramientas adecuadas para una amplia gama de aplicaciones en numerosos campos de la ciencia y la industria.

TESCAN se ha consolidando gracias a su participación proyectos de investigación con los investigadores más importantes, así como la colaboración con las compañías líderes en el campo de la microscopía electrónica y el microanálisis.

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