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AFM-IR vs s-SNOM | Dos técnicas complementarias con diferentes puntos fuertes
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Ahora, con el nuevo NanoIR2-s puedes elegir la configuración que mejor se adapte a las medidas que necesitas.
La tecnología AFM-IR detecta directamente la luz absorbida por la muestra utilizando la punta de la sonda de AFM para detectar la expansión térmica. Esta expansión térmica depende principalmente de coeficiente de absorción, ks de la muestra, y es en gran medida independiente de otras propiedades ópticas de la punta y la muestra. Por lo tanto, la tecnología AFM-IR se utiliza para realizar medidas en las que se desea un espectro de absorción precisa. Esta tecnología es la ideal para los estudios de la material "blando", debido a la gran expansión térmica de éstos.
Por otra parte, la tecnología s-SNOM detecta la luz dispersada por regiones con dimensiones nanométricas situadas directamente debajo de la punta de la sonda de AFM. El campo dispersado depende de las constantes ópticas complejas, tanto de la punta como de la muestra y contiene abundante información acerca de los fenómenos nano-ópticos.
Para realizar este tipo de medidasse requiere muestra de referencia (por ejemplo, de oro o de silicio) para separar las contribuciones a la respuesta de la fuente y de la punta. s-SNOM funciona mejor con materiales "duros" que interactúan fuertemente con la luz.
s-SNOM es una técnica atractiva para obtener imágenes nanométricas de contraste en las propiedades ópticas, con diversas aplicaciones en materiales avanzados, dispositivos e interacciones luz/materia fundamentales.
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